三坐標(biāo)知識| 接觸式測頭與光學(xué)測頭有何不同

發(fā)表時間：2023-03-07 13:03:34 作者：三坐標(biāo) 來源：www.1088fc.com 瀏覽：978

對于三坐標(biāo)測量機(jī)來說，測頭之間并無絕對優(yōu)劣之分。不同測頭的適用場景并不一樣，而在其適用環(huán)境下該測頭就能發(fā)揮更大作用。同樣的，光學(xué)側(cè)頭和接觸式測頭也是如此。

使用光學(xué)式測頭后得出的結(jié)果能與CAD模型做對比，獲取零件整體/局部輪廓的偏差等等。但在一些特殊工件，比如一些微小軟等不適宜進(jìn)行接觸測量工件，光學(xué)式測頭要優(yōu)于接觸式測頭。同時在測量效率方面，光學(xué)式測頭也要由于接觸式測頭，更適合進(jìn)行大批量高效測量。

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接觸式測頭在測量特定位置的三維曲線時，比如在測量透平葉片時，可能會存在半徑補償余弦誤差或?qū)嶋H測點位置出現(xiàn)偏差的情況。而非接觸式測頭能很好地回避這一問題。因為它是直接利用光點的反射信號來獲取被測點的坐標(biāo)，不存在半徑補償?shù)沫h(huán)節(jié)，因此能夠完全杜絕余弦誤差產(chǎn)生的源頭。同時，葉片也是較為輕薄的工件，用接觸式測頭測量可能會使工件變形而對測量結(jié)果產(chǎn)生影響，進(jìn)而產(chǎn)生測量偏差等。

需要做三維測量時，單獨的光學(xué)測頭就難以進(jìn)行測量任務(wù)。需要進(jìn)行測量時，往往需要配合接觸式測頭一起，由接觸式測頭負(fù)責(zé)建立測量基準(zhǔn)進(jìn)行。光學(xué)測頭雖然有一些接觸式測頭無法提供的優(yōu)勢，但在需要L型測針的場合或進(jìn)行如徑深比很小的孔測量時，接觸式測頭要更適用。

在實際測量中，我們要分析好自己的使用場景，選擇正確的測頭。除了測頭之外，三坐標(biāo)測量機(jī)的性能、售后服務(wù)等也很重要。思瑞三坐標(biāo)測量機(jī)憑借出眾的性價比，周到的售后維護(hù)獲得越來越多用戶的信賴與認(rèn)可。